Описание
Исследования рельефа поверхности объектов в твердой фазе и для определения элементного состава объектов методом рентгеновского микроанализа по длинам волн и энергиям квантов характеристического рентгеновского излучения.
Область применения: материаловедение, микроэлектроника и полупроводниковые технологии, металловедение, металлофизика, металлургия, геология, биология, медицина и другие области науки и техники.
Оборудование: Растровый электронный микроскоп РЭММА-2000, РЭМ-2000, РЭМ-106.
